LAP-DW2000干湿一体全自动激光粒度分析仪

产品名称：LAP-DW2000干湿一体激光粒度分析仪

技术标准：ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008

测试范围: 0.1um～2000um 0.01um～2000um

探测单元：127

激光类型:进口半导体激光器(可选氦氖激光)

首先感谢您对LAP-DW2000湿法全自动激光粒度分析仪的关注！

LAP-DW2000是我公司倾力研发的产品，自上市以来赢得了广大客户的*。LAP-DW2000采用*的Mie式散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。高密度探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。*的湿法循环分系统，保证颗粒保证测试过程中无颗粒沉积现象，测试排水后无废液积存现象，保证了第二次测试精度，使测试结果更真实可靠；干法分散采取了直线喷射分散方法，样品经过高压气体分散后垂直向后飞行，避免了待测颗粒二次团簇，同时采取了管道无残留设计，保证了测试不同样品的准确性。*的光路自动校对系统、干湿一键切换系统、干法电脑远端控制喂料系统等精心设计彰显出LAP-DW2000*优势。

LAP-DW2000激光粒度分析仪主要性能特点：

*的光路设计：LAP-DW2000采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在zui短的焦距获得zui大量程，有效提高仪器的分辨能力；*的高密度探测单元，让LAP-DW2000拥有了*的小颗粒测试能力，高密度探测单元使用LAP-DW2000具有*的全量程无缝测试能力。

单光路单镜头设计：全新设计的光路采用了后项镜头采集技术，实现了0.01度到170度无盲区探测，测量范围为0.01微米到2000微米。

铝合金光学平台：高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠；光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题；仪器设计符合激光安全规范，具备激光束自动防护功能。

误操作保护功能：全新设计的LAP-DW2000具备误操作保护功能，仪器对操作者错误的指令具备无响应功能，避免了误操作对仪器的损坏，同时大大提高仪器测试结果的稳定性。

大口径镜头：大口径傅里叶变换镜头，更有效实现光信号傅里叶变换，更准确、更有效。

超声防干烧：DW2000实现了样品池无水超声自我保护功能，避免损坏超声；同时超声功率在0到50瓦范围内可调节。

防尘、防震设计：仪器整体进行了密封设计，大幅提高了内部元器件使用寿命。*的悬浮式结构能有效避免外界震动对仪器的干扰，使结果测试更稳定可靠。

强防腐设计（选配）：根据耐客户实际需求可以配备耐酸、耐碱、耐油（含一切溶剂油）、耐有机溶剂（像丙酮、苯酚、正己烷等一切有机溶剂）。

进口光纤半导体激光器：LAP-DW2000采用了高稳定、长寿命的进口大功率光纤输出半导体激光器，优良的单色性及稳定性让LAP-DW2000拥有了*的测试重复性；激光器具备自我检查功率变化自行调节功能，保持激光器恒功率输出。（波长635nm;功率大于5mw）。

自动对中：*采用机械中心与光学中心相结合技术，光路自动调整定位更，达到微米级别；同时光路调整速度个更快捷zui快15秒即可完成调整。自行研制的自动对中系统包括步进电机、精密导轨、精密控制器以及软件系统组成，zui小步距0.2微米，保证激光束焦点始终从探测器中心点穿过，提高测试结果的准确性以及测试的重复性。自动对中系统是易仕特所有型号激光粒度仪的标准配置。

分体式设计：LAP-DW2000采用了分体式设计，光路部分更加稳定有效避免分散装置震动带来的影响，大大提高了仪器的测试重复性。

免排气泡设计：全新的设计使整个测试过程不会有气泡进入测试样品窗，避免了气泡干扰。

样品无残留设计：仪器管道及排水结构进行了优化设计，仪器管道、循环泵内无积液残留，避免对下一次测试数据的影响；干法测试同样进行了无残留设计。

干法计算机远程控制喂料：LAP-DW2000干法测试时测试人员可通过电脑远端控制喂料速度，大大减少了测试人员的劳动强度。

样品窗快换装置：全新设计的样品窗快换装置，使样品窗更换更方便快捷。

软件：符合药典GMP规定，具有电子签名、权限设置、数据追踪、数据不可更改等功能。
于制药行业客户，可以提供3Q认证。
主要技术参数：